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Optical Testing of submicron-technology MOSFETs and bipolar transistors
| Titel | Optical Testing of submicron-technology MOSFETs and bipolar transistors |
|---|---|
| Medien | ESSDERC'97 |
| Verlag | Editions Frontieres |
| Herausgeber | Grünbacher, H. |
| Verfasser | D Pogany, C Fuerboeck, Prof. Dr. techn. Norbert Seliger, P Habas, E Gornik, S Kubicek, S Decoutere, H Grünbacher |
| Seiten | 372-375 |
| Veröffentlichungsdatum | 1997 |
| Zitation | Pogany, D; Fuerboeck, C; Seliger, Norbert; Habas, P; Gornik, E; Kubicek, S; Decoutere, S; Grünbacher, H (1997): Optical Testing of submicron-technology MOSFETs and bipolar transistors. ESSDERC'97, 372-375. |