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Reliability aspects of semiconductor devices in high temperature applications
mehr| Titel | Reliability aspects of semiconductor devices in high temperature applications |
|---|---|
| Medien | Microelectronics Reliability |
| Verfasser | W Kanert, H Dettmer, B Plikat, Prof. Dr. techn. Norbert Seliger |
| Veröffentlichungsdatum | 2003 |
| Zitation | Kanert, W; Dettmer, H; Plikat, B; Seliger, Norbert (2003): Reliability aspects of semiconductor devices in high temperature applications. Microelectronics Reliability. DOI: 10.1016/S0026-2714(03)00313-5 |